Системы для Микроскопии и Анализа

ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС
В Технопарке Сколково

Лаборатория компании СМА — открытая независимая лаборатория, обладающая современными системами: оптической, растровой, ионной, просвечивающей микроскопии, а также рентгеновской томографии высокого разрешения, трехмерной...

Показать полностью

УСЛУГИ

Микроанализ

  • Рентгеновская микротомография;
  • Растровая электронная/ионная микроскопия высокого разрешения (SEM/FIB);
  • Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия;
  • Корреляционная конфокальная микроскопия;
  • Сканирующая аналитическая высокоразрешающая просвечивающая электронная микроскопия;
  • Рентгенофлуоресцентная спектроскопия;
  • Конфокальная флуоресцентная микроскопия;
  • Световая микроскопия;
  • Анализ концентрации, формы и размера частиц;
  • Автоматизированное определение минерального состава;
  • Пробоподготовка;
  • Обработка баз данных изображений с помощью специализированного ПО.
Оплата микрогрантом

Оборудование

  • Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN + GIF.
  • Просвечивающий электронный микроскоп FEI Tecnai G2 20 TWIN.
  • Двухлучевая аналитическая система FEI Helios 660 Nanolab для растровой электронно-ионной микроскопии.
  • Двухлучевая аналитическая система FEI Versa 3D LoVac для растровой электронно-ионной микроскопии.
  • Растровый электронный микроскоп FEI Teneo Volume Scope.
  • Рентгеновский микроскоп / микротомограф Xradia Versa XRM-500.
  • Рентгеновский микротомограф FEI Heliscan microCT.
  • Сканирующий микрозонд для фотоэлектронной спектроскопии PHI VersaProbe II.
  • Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDAX Orbis PC Micro-XRF Analyzer.
  • Анализатор концентрации, формы и размера частиц Ambivalue EyeTech.
  • Конфокальный флуоресцентный микроскоп FEI CorrSight.
  • Система автоматического определения минерального состава FEI QEMSCAN WellSite.
  • Универсальный световой исследовательский микроскоп Leica DM LB2 с системой цифровой съемки и специализированным метрологическим программным обеспечением для обработки изображений ImageScope-М.
  • Комплект оборудования для пробоподготовки.
  • Развернуть

Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN + GIF.

 

  • S/TEM: структурные исследования с пространственным разрешением 0,14-0,19 нм; кристаллографический/фазовый микро-/нано-анализ   методами электронной дифракции;
  • STEM+EDS: картирование / профилирование элементного состава с разрешением < 1 нм;
  • EFTEM, EELS: анализ химсостава с субнанометровым разрешением; получение общих и эластичных светлопольных / темнопольных изображений + низкие дозы (элементно- и структурно-чувствительный контраст).

Контакты

Москва

ООО СМА

Сколковское шоссе, д.45 (корпус "Урал"), офис 20
На карте

Москва

ЦКП Микроанализ

Территория ИЦ «Сколково», Большой бульвар, 42, стр. 1 (здание "Технопарк"), 0 этаж, помещения №№312 - 320
На карте